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Interferometria de varredura da luz branca/interferometria ótica fácil de usar

Certificado
de boa qualidade Sistema de medição video para vendas
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Interferometria de varredura da luz branca/interferometria ótica fácil de usar

Scanning White Light Interferometry / Optical Interferometry User - Friendly
Scanning White Light Interferometry / Optical Interferometry User - Friendly

Imagem Grande :  Interferometria de varredura da luz branca/interferometria ótica fácil de usar

Detalhes do produto:

Lugar de origem: Guangdong China
Marca: Rational
Certificação: CE SGS ISO
Número do modelo: Interferômetro da luz branca

Condições de Pagamento e Envio:

Quantidade de ordem mínima: 1 conjunto
Preço: Negotiable
Detalhes da embalagem: Caso de madeira da embalagem do vácuo & da fumigação livre
Tempo de entrega: Após o sinal recebido 5-15workdays
Termos de pagamento: L/C, D/A, D/P, T/T
Habilidade da fonte: grupo 10000 pelo mês
Descrição de produto detalhada
Escala de medição: 100um (até 400um) Vida útil média: 1000hours (100W) 500hours (150W)
Resolução: 0.1Nm Poder: C.A. 100-240V 50/60Hz
Velocidade de digitalização: O 12um/s o mais rápido Marca: Rational
Realçar:

optical surface profiler

,

vertical scanning interferometry

Interferometria de varredura da luz branca/interferometria ótica fácil de usar


Resumo de produto:


Combinado com o microscópio e o interferômetro, o interferômetro da luz branca, com medida 3D da altura da exploração vertical de 400um, é apropriado para a medida do esboço e do perfil de vários materiais e de micro componentes. Este instrumento não precisa o programa alterado pela luz complexa. É amplamente utilizado na lente de vidro, na superfície do filme do revestimento, na bolacha, no disco, no MEMS (micro eletro sistema mecânico), no LCD plano, no PWB high-density, no IC que empacotam, na análise material, na pesquisa de superfície do micro, etc.
 

Características:


1. medida 3D para o objeto do nanoscale.
2. de alta velocidade e não-contato.
3. análise da superfície, do perfil e da aspereza.
4. materiais transparentes ou não transparentes disponíveis.
5. feixe do Não-elétron e medida da segurança não-laser.
6. manutenção barata.

Gráfico 3D profissional que processa e que analisa o software (cargo Topo):
1. relação homem-máquina fácil de usar.
2. Auto-calibração para filme padrão avançado.
3. a análise linear ou a análise regional estão disponível ao analisar a profundidade e a altura.
4. a análise linear está disponível na aspereza ou no waviness definida pelo ISO.
5. 17 especificações de medição e 4 dados de medição adicionais disponíveis.
6. a análise regional está disponível na análise gráfica ou na análise da estatística.
7. 2D Fourier rápido transforma (FFT) que processa a característica como o alisamento, apontar, e a onda digital da filtragem.
8. o resultado da análise output em arquivos gráficos múltiplos como o BMP, ou no formato de Excel pelo interferômetro que analisa o software, ImgScan.

 

Software de análise da interferência da alta velocidade e da elevada precisão (ImgScan):


1. O hardware de sistema é configurado com software deprocessamento de ImgScan para analisar automaticamente a franja da branco-luz.
2. a altura do vertical é até 0.1nm.
3. software de computação e de análise de alta velocidade.
4. A instalação da escala da exploração vertical é fácil e simples.
5. a lente está disponível em 10X, em 20X ou em 50X.
6. exposição numérica da linha central de X, de Y e de Z, que faz o objeto medido mais rápido e mais conveniente detectar.
7. o brilho automático manual está disponível para adquirir a melhor comparação da franja da branco-luz.
8. disponível no modo da medida da exploração da elevada precisão PVSI ou no modo de alta velocidade da medida da exploração de VSI.
9. Patented que analisa o software é apropriada para medir o perfil 3D do objeto semi-transparente.
10. ponto da reparação de automóveis.
11. o sentido de exploração pode ser ajustado pelo usuário.

Especificações:

 

Modelo AE-100M
Tabela movente (milímetro) Tamanho: 100*100, curso: 13*13
Ampliação da lente 10X 20X 50X
Observando a escala de /Measuring (milímetro) 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066
Definição (μm) 0,92 0,69 0,5
Graus 17 23 33
Distância de funcionamento 7,4 4,7 3,4
A definição do sensor pixel: 640*480
Carga do peso (quilograma) 20kg/menos do que 1kg
curso da Z-linha central 45mm (manualmente se ajustar)
indicação digital da Z-linha central Definição: 1μm
Inclined que ajusta a plataforma Ajuste do manual de Biax/
Medida da altura
Escala de medição 100 (μm) (400μm. Configuração opcional)
Definição 0.1nm
Precisão repetida ≤ 0,1% (height>10μm de medição)
≤10nm (height1μm de medição 10μm)
≤ 5nm (altura de medição <1>
Sistema de controlo de medição Automático
Velocidade de exploração (μm/s) 12 (o mais rápido)
Iluminação
Tipo Lâmpada do halogênio
Tempo médio 1000h 100W 500h (150W)
Brilho Automaticamente/ajusta manualmente
Processo de dados e computador
Exposição de processamento e de computação da central COPO duplo de core+
Vídeo e exposição de processo de dados 17" painel LCD
Ósmio Windows XP (2)
Fonte de alimentação e exigências ambientais AC100 --240 V 50-60Hz
Vibração ambiental VVC-C mais o nível
Medindo e analisando software
Software de medição ImgScan Software de medição ImgScan: disponível no modo de medição de VSI/PVSI/PSI (o modo de medição da libra por polegada quadrada deve ser configurado com módulo da libra por polegada quadrada)
Analisando o software PosTopo A aspereza do ISO/análise da altura, o múltiplo 2D e 3D Fourier rápido transformam.
Observe o gráfico da visão como o esboço; esboço, área, e análise do volume; zumbir do gráfico; conversão do formato de arquivo de vídeo.
Relate a saída; programe a medida do seminário de estudantes.

 

 

 

 

 

Contacto
Rational Precision Instrument Co.,Ltd.

Pessoa de Contato: Sunny

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